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借助安全事項(xiàng)應(yīng)用筆記實(shí)現(xiàn)安全設(shè)計(jì)——第3部分:提升功能安全性能

發(fā)布時(shí)間:2026-06-12 來(lái)源:轉(zhuǎn)載 責(zé)任編輯:lily

【導(dǎo)讀】對(duì)安全功能電路進(jìn)行首次失效模式、影響與診斷分析(FMEDA)后,結(jié)果只有兩種。第一種結(jié)果是系統(tǒng)完整性等級(jí)(SIL)要求得到滿足,第二種結(jié)果是要求未能滿足。對(duì)于后者,要在不進(jìn)行重大架構(gòu)變更的情況下解決問題,系統(tǒng)集成商可以提高診斷覆蓋率、調(diào)整運(yùn)行條件和/或采用額外安全措施。ADI公司安全應(yīng)用筆記中的信息可以幫助系統(tǒng)集成商實(shí)施此類設(shè)計(jì)改進(jìn),從而達(dá)到每小時(shí)危險(xiǎn)失效概率(PFH)/按需危險(xiǎn)失效概率(PFDAVG)和安全失效比率(SFF)要求。因此,本系列的第3部分深入探討系統(tǒng)集成商如何使用功能安全(FS)型器件的安全應(yīng)用筆記,來(lái)提升IC在系統(tǒng)中的功能安全性能。


示例FMEDA


本系列的第2部分介紹了系統(tǒng)集成商在進(jìn)行系統(tǒng)失效模式、影響與診斷分析(FMEDA)時(shí),如何使用功能安全(FS)型IC的安全應(yīng)用筆記中包含的安全信息。首次執(zhí)行FMEDA后,如果安全功能的功能安全(FS)架構(gòu)設(shè)計(jì)已經(jīng)較為完善,則設(shè)計(jì)可能已經(jīng)達(dá)到規(guī)定的每小時(shí)危險(xiǎn)失效平均頻率(PFH)/按需危險(xiǎn)失效平均概率(PFDAVG)和安全失效比率(SFF)要求。否則,設(shè)計(jì)將需要進(jìn)一步改進(jìn)。


例如,表1展示了一項(xiàng)系統(tǒng)FMEDA,側(cè)重于分析ADP7156對(duì)一個(gè)假定的單通道(無(wú)硬件容錯(cuò)(HFT)/HFT = 0)安全功能的影響。分析中假設(shè):


LDO為邏輯控制器供電。


如果低壓差穩(wěn)壓器(LDO)的輸出電壓為0V,則安全功能可以實(shí)現(xiàn)安全狀態(tài);否則,后果要么是對(duì)安全功能沒有影響,要么導(dǎo)致安全功能喪失。


就診斷而言,假設(shè)采用帶安全切斷的過壓保護(hù)技術(shù)(參見IEC 61508-2:2010表A.9)。據(jù)此,針對(duì)與過壓相關(guān)的危險(xiǎn)失效,最大可聲稱診斷覆蓋率(DC)可達(dá)到60%。在運(yùn)行方面,假設(shè)安全功能在高需求模式下運(yùn)行。同樣,本文使用的失效率預(yù)測(cè)依據(jù)IEC 62380標(biāo)準(zhǔn)。


表1:針對(duì)ADP7156的FMEDA分析示例


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圖1:基于IEC 61508:2010的診斷2


回顧SFF計(jì)算公式1:


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IC每小時(shí)危險(xiǎn)失效平均頻率(PFH)的計(jì)算公式1:


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對(duì)于當(dāng)前設(shè)計(jì),安全功能的SFF為69%,而PFH貢獻(xiàn)為1.77FIT。如果安全功能需要達(dá)到IEC 61508規(guī)定的系統(tǒng)完整性等級(jí)(SIL) 2,設(shè)計(jì)的SFF至少需要為90%。同時(shí),SIL 2容許的PFH為100FIT至1000FIT。假設(shè)1%的PFH分配給IC,則要求的PFH貢獻(xiàn)將在1FIT到10FIT的范圍內(nèi)。如果目標(biāo)是下限,即1FIT,則當(dāng)前架構(gòu)將不符合SIL 2的SFF和PFH要求。


接下來(lái)將闡述系統(tǒng)集成商可以通過哪些途徑來(lái)改進(jìn)設(shè)計(jì)的PFH和SFF指標(biāo)。


提高診斷覆蓋率


公式2表明,PFH與未檢出的危險(xiǎn)失效率成正比。同樣,公式1表明SFF與安全失效率和未檢出的危險(xiǎn)失效率成正比。因此,降低未檢出的危險(xiǎn)失效率并提高已檢出的危險(xiǎn)失效率,會(huì)改善IC的PFH和SFF指標(biāo)。詳情如圖1所示。


對(duì)于表1所示的FMEDA示例,僅與過壓相關(guān)的失效被納入診斷覆蓋范圍。為了提升IC的安全性能,可從提高診斷覆蓋率入手,具體包括以下兩種方法:第一種是增加診斷覆蓋率以檢測(cè)欠壓相關(guān)的危險(xiǎn)失效,第二種是增加診斷覆蓋率以檢測(cè)過壓相關(guān)的危險(xiǎn)失效。例如,診斷覆蓋率(DC)從60%增加到90%。


當(dāng)前設(shè)計(jì)采用過壓保護(hù)和安全關(guān)斷診斷措施,根據(jù)IEC 61508-2:2010表A.9,最大可聲稱診斷覆蓋率為60%。使用電壓控制(次級(jí))診斷措施來(lái)監(jiān)測(cè)ADP7156的輸出,將使最大可聲稱診斷覆蓋率達(dá)到99%。這種診斷措施會(huì)同時(shí)監(jiān)測(cè)過壓(OV)和欠壓(UV)情況,或任何超出指定范圍的異常情況,因此與OV和UV相關(guān)的危險(xiǎn)失效都會(huì)得到覆蓋。將此方法應(yīng)用于表2中的FMEDA示例,可實(shí)現(xiàn)0.04FIT的PFH和99.3%的SFF,超過SIL 2的要求。1,3


優(yōu)化可靠性預(yù)測(cè)


改善IC的PFH的另一種方法是降低估計(jì)的失效率?!读私獍踩马?xiàng)應(yīng)用筆記》系列的第1部分介紹了系統(tǒng)集成商如何根據(jù)高溫工作壽命(HTOL)、SN 29500和IEC 62380,計(jì)算FS型器件的失效率。在ADI安全應(yīng)用筆記中給出的假設(shè)條件下,系統(tǒng)集成商可以使用所提供的信息來(lái)確??煽啃灶A(yù)測(cè)與工作條件相符,而不必使用最差情況下的值。


例如,在假設(shè)工作條件下根據(jù)SN 29500 FIT進(jìn)行的ADP7156可靠性預(yù)測(cè)如圖2所示。SN 29500可靠性預(yù)測(cè)受應(yīng)用相關(guān)參數(shù)的影響,例如電壓依賴因子和溫度依賴因子。因此,如果假設(shè)的IC工作條件(如工作電壓、環(huán)境工作溫度、任務(wù)剖面和負(fù)載條件)比實(shí)際應(yīng)用更嚴(yán)苛,設(shè)計(jì)人員可以調(diào)整假設(shè)條件,使其與實(shí)際情況相匹配。


表2:針對(duì)ADP7156的FMEDA分析示例


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圖2:ADP7156的SN 29500 FIT,基于其安全應(yīng)用筆記


采用額外安全措施


ADI的安全應(yīng)用筆記還給出了分析中使用的假設(shè)應(yīng)用電路,如圖3所示。應(yīng)用筆記中的“失效模式分布(FMD)”部分提供了系統(tǒng)失效模式。在此基礎(chǔ)上,設(shè)計(jì)人員可以根據(jù)需要決定,應(yīng)采取哪些額外的安全措施來(lái)應(yīng)對(duì)這些失效模式。例如,可以添加齊納二極管和保險(xiǎn)絲等保護(hù)措施,防止輸出端發(fā)生過壓相關(guān)的危險(xiǎn)失效。有了這種保護(hù),齊納二極管會(huì)鉗位過壓,使此類失效不產(chǎn)生影響,從而消除危險(xiǎn)失效,改善PFH和SFF指標(biāo)。


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圖3:ADP7156安全應(yīng)用筆記中假設(shè)的應(yīng)用電路


結(jié)論

要達(dá)到嚴(yán)格的SIL要求,未必需要對(duì)系統(tǒng)架構(gòu)進(jìn)行全面改造。很多情況下,利用有針對(duì)性的診斷和可靠性數(shù)據(jù),對(duì)現(xiàn)有設(shè)計(jì)進(jìn)行策略性優(yōu)化,就能實(shí)現(xiàn)目標(biāo)。借助ADI公司安全事項(xiàng)應(yīng)用筆記中提供的見解,系統(tǒng)集成商可以增強(qiáng)診斷覆蓋率,優(yōu)化運(yùn)行條件以降低估計(jì)失效率,或納入外部保護(hù)電路等補(bǔ)充安全措施,從而系統(tǒng)性地提升功能安全性能,尤其是SFF和PFH/PFDAVG。正如ADP7156 LDO穩(wěn)壓器示例所示,從基本過壓關(guān)斷升級(jí)為次級(jí)電壓監(jiān)測(cè),能夠使設(shè)計(jì)從不符合SIL 2標(biāo)準(zhǔn),一舉躍升為滿足并超越SIL 2標(biāo)準(zhǔn)的要求??偠灾@些應(yīng)用筆記為工程師的安全設(shè)計(jì)提供了關(guān)鍵指引,可確保集成電路能夠精準(zhǔn)高效地滿足IEC 61508的嚴(yán)格要求。


參考文獻(xiàn)

1 Bryan Borres,“了解安全事項(xiàng)應(yīng)用筆記——第2部分:失效模式分布”,《模擬對(duì)話》,第59卷,2025年10月。

2 Bryan Borres,“利用高性能監(jiān)控電路提高工業(yè)功能安全合規(guī)性:使用SIL級(jí)器件——第二部分”,ADI公司,2025年3月。

3 Bryan Borres和Noel Tenorio,“工業(yè)功能安全電源設(shè)計(jì)——第一部分:IEC 61508標(biāo)準(zhǔn)解讀”,ADI公司,2025年7月。


作者簡(jiǎn)介

Bryan Angelo Borres是一名經(jīng)TüV認(rèn)證的功能安全工程師,目前負(fù)責(zé)多個(gè)工業(yè)功能安全項(xiàng)目。作為高級(jí)功能安全工程師,他協(xié)助元器件設(shè)計(jì)師和系統(tǒng)集成商設(shè)計(jì)符合工業(yè)功能安全標(biāo)準(zhǔn)的功能安全電源產(chǎn)品。Bryan是菲律賓參加國(guó)際電工委員會(huì)(IEC) TC65/SC65A技術(shù)委員會(huì)的國(guó)家委員會(huì)成員,同時(shí)也是電氣電子工程師協(xié)會(huì)(IEEE)的高級(jí)會(huì)員。此外,他擁有電力電子專業(yè)研究生文憑,在高效、穩(wěn)健的電力電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)方面擁有超過八年的豐富行業(yè)經(jīng)驗(yàn)。


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